JavaScript is currently disabled.Please enable it for a better experience of Jumi. En heldag om tillförlitlighet
Det är dags att redan nu boka in tisdagen den 26 oktober. Då presenteras resultaten från uppföljningen av de 300 kretskort som tillverkades under SEE-mässan.
Det är andra gången som Tillförlitlighetsdagen äger rum, den förra gick av stapeln 2008 (länk).

– Upplägget blir lite annorlunda denna gång. Då var underlaget lite för magert för att kunna dra några säkra slutsatser. Den här gången har vi full spårbarhet på alla de 300 kort som tillverkades, säger Lars Wallin som organiserar tillförlitlighetsdagen.

Större delen av dagen kommer därför att ägnas åt att dissekera resultaten från de tester som pågår för fullt. Denna vecka ska avsyningen som görs enligt klass 2 bli klar och sedan ska korten miljötestas.

– Det går att spänningssätta korten med den daisy-chain vi lagt in så det går att se exakt när korten slutar fungera.

Sedan kan man analysera vad det är som fallerar eller omvänt, vad som fungerar bäst. Förhoppningsvis kan man säga om guld eller silver är bäst som ytbehandling eller vilken lodpasta, screentryckare eller lödmetod som fungerar bäst.

Resultaten kommer att tolkas av konsulten Lars-Gunnar Klang, Göran Wetter från Swerea, Lars Wallin själv och en mönsterkortsexpert.

– En ny grej för i år är att vi lagt ut två studentprojekt som ska titta på vad Rohs kostar. Den ena gruppen fokuserar på själva mönsterkortet och den andra på kretskortet, säger Lars Wallin.

Båda grupperna utgår från det kort som tillverkades på SEE och målet är att kunna redovisa hur RoHS-direktivet påverkat kostnaden.

Precis som förra gången kommer det också att finnas en lite minimässa med 20-talet utställare, där Elektroniktidningen är en.
MER LÄSNING:
 
KOMMENTARER
Kommentarer via Disqus

Anne-Charlotte Lantz

Anne-Charlotte
Lantz

+46(0)734-171099 ac@etn.se
(sälj och marknads­föring)
Per Henricsson

Per
Henricsson
+46(0)734-171303 per@etn.se
(redaktion)

Jan Tångring

Jan
Tångring
+46(0)734-171309 jan@etn.se
(redaktion)