Allt du behöver veta om tillförlitlighet

”Reliability of Microtechnology: Interconnects, Devices and Systems” är helt ny bok om tillförlitlighet. Den täcker allt från mätteknik, felmodeller och felmekanismer till testmetoder. Boken börjar med löd- och limfogar och går via komponenterna hela vägen upp till systemnivå.

Huvudförfattare är Johan Liu, professor på Chalmers och grundare av företaget SHT, Smart High Tech. Till sin hjälp har han haft Olli Salmela och Jussi Sarkka från Nokia Siemens Networks, James E. Morris från Portland State University, Per-Erik Tegehall från Swerea IVF och Cristina Andersson på Chalmers.

Boken är tänkt att fungera lika bra som kursbok på universitet och högskolor som i industrin. Boken är på 204 sidor och utgiven på Springer förlag.

Den går bland annat att köpa via nätbokhandeln Amazon (länk).