About / Advertise
Arm och Mentor Graphics har gemensamt utvecklat verktyg och metodik för test av Arm-baserade halvledarsystem. Målet är att öka testernas kvalitet samtidigt som kostnaderna och tiderna ska minskas.
Ett system på kisel med en eller flera Arm-processorer innehåller vanligtvis även flera typer av SRAM, registerfiler och ROM. Några SRAM kan vara optimerade för höghastighet och kräva höga spänningar, andra kan vara optimerade för låg effekt. Alla dessa minnen har olika testkrav, och metoderna för att testa dem varierar med antalet minnesinstanser, den totala minnesmängden och processens mognadsnivå. Därtill finns oftast ytterligare minnen inbyggda i processorkärnan, som skräddarsytts för maximal prestanda och minimal yta och strömförbrukning. Dessa minnen ökar komplexiteten i testerna ytterligare.
Denna problematik har Arm och Mentor Graphics attackerat gemensamt, och samarbetet har nu resulterat i en lösning, ett referensflöde kallat Tessent Testkompress, baserat på Mentors testverktyg Tessent. I lösningen ingår en helt automatiserat metodik för test av minnen, stöd för Armgränssnittet Mbist, och åtkomst av alla minnen i Arm-kärnorna för full testning av dessa.
– Referensflödet ger våra kunder en enkel och verifierad testmetodik för kostnadseffektiv, högkvalitativ test av processorlogik och tillhörande logik, säger Arms testchef Teresa McLaurin.
I flödet ingår scan-baserade metodik för konstruktion för testbarhet, automatisk testmönstergenerering (ATPG), Mentors egenutvecklade metodik för kompresson av testdata samt teknik för inbyggt självtest (Bist) av minnen.
– Vårt samarbete med Arm gynnar våra gemensamma kunder, som kan komma ut på marknaden snabbare med sina Arm-baserade produkter när testtiden minimeras, kommenterar Mentors produktchef Steve Pateras.
