JavaScript is currently disabled.Please enable it for a better experience of Jumi.
 Annonsera Utgivningsplan Månadsmagasinet Prenumerera Konsultguide Om oss  About / Advertise
tisdag 23 juli 2019 VECKA 30

IVF informerar om risker med blyfri lödning

Den 17 juni ordnar Swerea IVF ett heldagsseminarium i Göteborg om blyfri lödning och riskerna med att använda traditionella standarder. Bland annat kommer det nyligen avslutade projektet kring blyfri lödning i fordonsapplikationer att presenteras.
Agenda
  • Resultat från FFI-projektet om blyfri lödning för fordonsapplikationer
  • Inverkan av ny ingjutningsplast för halvledarkomponenter på tillförlitligheten
  • Inverkan av mindre pitch för BGA-komponenter på tillförlitligheten
  • Tillförlitlighetsrisker med QFN-komponenter
  • Otillräckligheten av traditionella standarder
  • Alternativa nya tillförlitlighetsstandarder
  • Vinnovas satsning inom elektronikområdet
  • EU-satsningar inom elektronikområdet
Ett intressant resultat är att övergången till blyfri lödning medför stor risk för betydligt kortare livslängd hos elektroniken. Slutsatsen gäller även när klassiskt tennblylod används eftersom komponenttillverkarna bytt ingjutningsplast. Det leder till problem vid temperaturcykling eftersom plasten har en utvidgningskoefficient på 6-10 ppm.

För vissa QFN- och BGA-komponenter kan det handla om så mycket som 85 procent.

Mer information och anmälan finns här: (länk).
MER LÄSNING:
 
Branschens egen tidning
För dig i branschen kostar det inget att prenumerera på vårt snygga pappers­magasin.

Klicka här!
SENASTE KOMMENTARER
Kommentarer via Disqus

Vi gör Elektroniktidningen

Anne-Charlotte Sparrvik

Anne-Charlotte
Sparrvik

+46(0)734-171099 ac@etn.se
(sälj och marknads­föring)
Per Henricsson

Per
Henricsson
+46(0)734-171303 per@etn.se
(redaktion)

Anna Wennberg

Anna
Wennberg
+46(0)734-171311 anna@etn.se
(redaktion)

Jan Tångring

Jan
Tångring
+46(0)734-171309 jan@etn.se
(redaktion)