Dan Adolfsson har tilldelats Lilla Polhemspriset på 25 000 kronor för bästa exjobb av Sveriges Ingenjörer. Han har i samarbete med NXP förbättrat metoden att med hjälp av scankedjor diagnostisera defekter i integrerade kretsar. Testerna går numera 10-100 gånger snabbare och dessutom med betydligt högre precision. - Man kan säga att presentationen av exjobbet var en del av anställningsintervjun, säger Dan Adolfsson.
Scankedjor är en vanlig metod att testa färdigproducerade integrerade kretsar för att hitta defekter som uppstått i produktionen. Metoden bygger på att alla vippor är sammankopplade till långa skiftregister. Vid ett test skiftas stimuli in, en normal klockcykel appliceras och därefter skiftas svaret ut och jämförs med förväntat testsvar.
Problemet är att beräkningstiden för scankedjediagnostiken kan bli enorma för stora kretsar. Själva scankedjorna kan i sig ta upp till 30 procent av kretsytan, och defekterna kan förstås lika gärna uppträda i dessa kedjor.
- Testar man bara logiken så missar man alltså att dra lärdom av 30 procent av felen. Sitter felet i scankedjan går det dessutom inte att diagnosticera resten av logiken eftersom logiktestet är beroende av att scankedjan är intakt, konstaterar Adolfsson.
Hans metod får inte bara ner beräkningstiderna till mellan en tiondel och en hundradel av tidigare. Lika viktigt är att metoden garanterar att ett existerande fel lokaliseras, samt att felets art alltid blir korrekt diagnosticerat.
- Åtminstone så länge det rör sig om fel av typen stuck-at-1, stuck-at-0 eller någon annan av de sex feltyper som är dokumenterade i litteraturen kring scanmetodiken. Metoden kan även hantera andra icke modellerade feltyper, men då kan inte resultatet garanteras med samma säkerhet, säger han.
Scantester används inte bara för att kassera defekta chips utan resultaten används också för att förbättra produktionen så att färre fel ska uppkomma i framtiden. Adolfssons testmetoder är kvalificerade av NXP sedan november i fjol och används numera i skarpa projekt där.