Mönstergenerator, mottagare och analysator ryms i ny krets från Dallas Semiconductor.

Att konstatera att det är fel i ett datanät brukar vara enkelt. Men att lokalisera vilken del som förorsakar felet kräver vanligen betydligt mer arbete. Oftast måste en tekniker med lämplig mätutrustning rycka ut för att göra felsökningen.

I framtiden ska det förhoppningsvis bli enklare, åtminstone om den amerikanska halvledartillverkaren Dallas Semiconductor får bestämma. Deras nya krets, DS2172, innehåller en komplett bitfelstestare med mönstergenerator, mottagare och analysator.

Företaget hoppas på att kretsen ska konstrueras in i framtida kommunikationsutrustning med maximal datahastighet på 52 Mbit/s. Den stora fördelen, enligt Dallas Semiconductor, blir att felsökningen då kan göras centralt, utan att en tekniker behöver skickas ut.

Testkretsen kan programmeras så att den genererar slumpmässiga testsekvenser (PRBS) som är upp till 32 bitar långa. Man kan också lägga in användardefinierade sekvenser.

Det är också möjligt att lägga in fel i testsekvenserna med en felsannolikhet upp till 10-1.

Priset är satt till cirka 35 kronor i kvantiteter om 5 000.

Per Henricsson