Skriv ut
För nio månader sedan klubbade IEEE den nya teststandarden 1149.7. Nu kommer den tyska testspecialisten Goepel med en testare.
Motivet till den nya teststandarden 1149.7, som bygger vidare på den klassiska 1149.1, är att den äldre standarden inte längre klarar av att avlusa mobiltelefoner som tillverkas med stackade kretsar och flera kretskort.

För att hantera det har 1149.7, eller cJtag som den också kallas, infört en stjärnformad topologi som kompletterar dagens linjära scankedja. Vidare blir det möjligt att hoppa över en eller flera komponenter för att korta scankedjan och därmed få en mer realtidsliknande respons från systemet.

Den nya standarden kan också hantera att kretsarna har upp till fyra typer av strömsparlägen. Dessutom sänks kravet på antalet anslutningar från fyra till två.

IP-bolaget IPextreme har sedan många år sålt en kärna utvecklad av Texas Instruments för just 1149.7 och nu har alltså Goepel anpassat sin testare Scanflex till standarden. Arbetet har gjorts i samarbete med IPextreme vilket ska garantera kompatibiliteten.