22 nm 2016 spår ITRS
Skriv ut
•
Av:
Lennart Pettersson
Publicerad 05 december 2001
Skapad den 05 december 2001
Senast uppdaterad 05 december 2001
Kostnader för test och verifikation kommer att bli ett stort problem för halvledartillverkarna. Processteknologin fortsätter dock att utvecklas enligt planerna.
Lennart Pettersson
JavaScript is currently disabled.
Please enable it for a better experience of
Jumi
.