JavaScript is currently disabled.Please enable it for a better experience of Jumi. Nu kan man testa chip via USB

När halvledarkretsarna blir allt mer komplexa tar produktionstesterna allt längre tid och kostar mer. Siemens vill lösa problemet med nya Tessent Silicon Executable, som gör det möjligt att köra testmönster direkt via snabba gränssnitt som USB och PCIe. Samma tester kan därmed användas under utvecklingen, i produktionen och i färdiga system.

Tessent Silicon Executable (TSE) kopplar samman Siemens verktyg för testbarhetsdesign med den utrustning som används för att testa kretsarna. Programvaran tar emot testmönster som genererats med Tessent, överför dem till kretsens inbyggda testlogik och skickar tillbaka resultaten för analys och felsökning.

Bakgrunden är att mängden testdata växer snabbt. Fler transistorer, avancerad kapsling med flera chip och nya transistortekniker gör att allt fler testmönster måste överföras till kretsarna. Med traditionella testmetoder riskerar själva överföringen att bli en flaskhals.

Genom att utnyttja snabba standardgränssnitt vill Siemens förenkla överföringen av testdata och korta testtiderna. En annan fördel är att samma testmönster kan användas i laboratoriet, i automatiserad produktionstestning och vid testning på systemnivå. Det gör det enklare att jämföra resultaten och snabbare gå från utveckling till serieproduktion.

Två av de största tillverkarna av testutrustning, Advantest och Teradyne, deltar redan i satsningen. Advantest integrerar programvaran i sin testplattform V93000 och utökar användningen till verifiering före tillverkning och utvecklingslaboratorier.

Teradyne integrerar i sin tur TSE i UltraPort-instrumentet för testsystemet UltraFLEXplus. Där kan Siemens Streaming Scan Network (SSN) användas över PCIe 6.0. Enligt Teradyne ger det betydligt högre prestanda och kortare testtider, men företaget presenterar ännu inga konkreta siffror.

Med Tessent Silicon Executable utökar Siemens sin testmiljö från konstruktion och generering av testmönster till att även omfatta själva testkörningen i kisel. Målet är att minska behovet av separata testanpassningar och sänka kostnaderna för halvledartillverkarnas produktionstester.

Prenumerera på Elektroniktidningens nyhetsbrev eller på vårt magasin.


MER LÄSNING:
 
KOMMENTARER
Kommentarer via Disqus

Vakant

Sälj och marknads­föring +46(0)734-171099 ads@etn.se
Per Henricsson
Per
Henricsson
+46(0)734-171303 per@etn.se
(redaktion)

 
Jan Tångring
Jan
Tångring
+46(0)734-171309 jan@etn.se
(redaktion)