JavaScript is currently disabled.Please enable it for a better experience of Jumi.
Nya och hårdare krav från kunderna på bättre integration har gjort att samarbetet mellan EDA-bolag och test- & mätföretag intensifierats den senaste tiden. I synnerhet är det mobilstandarden LTE och dess uppföljare LTE Advanced som driver på utvecklingen.

EDA-bolag har samarbetat med test- och mätföretag sedan tidernas begynnelse, men integrationen mellan dessa världar har på sistone gått in i en ny intensifierad fas. Två konkreta tecken på detta är att mätjätten National Instruments i somras köpte EDA-bolaget AWR, och att Synopsys och Rohde & Schwarz ingick en allians tidigare i våras.

Båda dessa händelser motiverades av krav från från kunderna – främst radio- och bansbandsutvecklare inom mobiltelefoni – på tätare integration för att kunna klara de pressade utvecklingstider som blivit följden av den hårdnande konkurrensen i telekomvärlden. Förvisso behöver alla konstruktioner som verifierats med simuleringar kunna valideras snabbt och strulfritt med verkliga tester, men just inom snabbt växande områden som LTE är behovet av rationalisering  extra stort.

Föga överraskande är just LTE det område där Synopsys och Rohde & Schwarz fokuserat sina initiala ansträngningar. Företagen lovar nu att signaler från Rohde & Schwarz signalgeneratorer beter sig likadant i verkligheten som i Synopsys simuleringsverktyg. Tack vare integrationen går det också att konfigurera signalgeneratorn och testutrustningen direkt från Synopsys konstruktionsverktyg. Vilket gör att testvektorer också garanteras bete sig likadant genom hela flödet.

Tillsammans har de båda också tagit fram ett bibliotek för det fysiska lagret i LTE-standarden, inklusive sändare, kanal och mottagare.

– I princip tog vi den 300 sidor tjocka specifikationen och gjorde om den till en exekverbar specifikation, berättar Markus Willems, produktmarknadschef på Synopsys.

Synopsys och Rohde & Schwarz demonstrerade sina gemensamt utvecklade LTE-produkter på mässan LTE Forum i Chicago i våras. Båda parter understryker att samarbetet bara är i sin början. För LTE Advanced kommer en gemensam lösning senare  under året.

National Instruments köp av det rf-specialiserade EDA-bolaget AWR slutfördes i juli, och de båda har än så länge inte visat upp några konkreta resultat. Klart är dock att AWR blir ett helägt dotterbolag som behåller namn, ledning och personal.

− De närmaste månaderna ska vi ta fram en gemensam plan för hur Labview och AWRs rf-simulatorer ska integreras, berättar National Instruments europamarknadschef Remco Krul.

– Fokus ligger på kostnad. Det finns ett enormt tryck hos rf-konstruktörerna att spara kostnader genom att integrera test och konstruktion tätare, och kunna återanvända testvektorer och testutrustning. Idag är testkostnaderna ibland högre än såväl utvecklings- som produktionskostnaderna för ett rf-projekt, säger han.

Den mjukvarudrivna EDA-industrin har bättre möjligheter att snabbt implementera nya algoritmer i sina produkter än den mer hårdvarudrivna test- och mätbranschen. Rohde & Schwarz och National Instruments kan därför i teorin spara många manårs utveckling på samarbetet med Synopsys respektive AWR, och på kortare tid få fram produkter som är bättre integrerade.

– I framtiden kanske vi kommer att göra så, men än så länge har båda sidor gjort varsin tolkning av standarden. Vi identifierade ett par olikheter, och vi menar att det är bra för kunderna eftersom det ökar trovärdigheten, säger Willems.

För en annan testjätte, Agilent, ökar nu konkurrensen samtidigt som trovärdigheten för dess affärsmodell stärks. Hos Agilent är integration av test och EDA en sedan länge implementerad strategi – företaget har sysslat med båda sidor i över 20 år och menar att strategin bidragit väsentligt till framgångarna. Även Agilents strategi bygger på förvärv, företaget (då Hewlett-Packard) köpte rf-EDA-bolaget Eesof 1993 och kollegan Xpedion 2006.

– Största fördelen är att man får ett designflöde med färre osäkerhetsfaktorer. Vi har samma algoritmer och samma testvektorer genom hela flödet, de är till och med gjorda utifrån samma källkod, säger Fredrik Zetterblad som är försäljningsingenjör på Agilent.

För exempelvis snabb prototypframtagning, där vissa delar av hårdvaran kan finnas framme medan andra måste emuleras av mätinstrument och generatorer, blir fördelarna extra tydliga.

− Visst går det att göra även om EDA-programmen och testverktygen är från olika leverantörer, men det kan bli väldigt mycket handpåläggning och risken för fel ökar. Ibland måste då signaler i format konverteras till mer generella format, och då kan man tappa i exakthet, säger Zetterblad.

Vilken av konstellationerna Agilent, Synopsys + Rohde & Schwarz eller National Instruments med AWR som kommer att lyckas bäst är förstås omöjligt att säga idag. Och andra EDA-bolag, främst Cadence och Mentor Graphics, vill säkert ha ett ord med i laget, liksom and­ra testjättar som Anritsu och Tektronix.

Tydligt är dock att rf-ingenjörernas önskemål om bättre integration mellan EDA och test fått ett helt annat gehör hos leverantörerna under det senaste halvåret.
MER LÄSNING: