JavaScript is currently disabled.Please enable it for a better experience of Jumi.
 ETN.fi  Annonsera Utgivningsplan Månadsmagasinet Prenumerera Konsultguide Om oss  About / Advertise
fredag 3 april 2020 VECKA 14
Koppla ifrån testobjektet och kör sedan ett speciellt testprogram för switchkorten. Svårare än så är det inte att hitta switchar som är på väg att gå sönder, hävdar Pickering Interfaces som lanserar ett antal produkter med den nya tekniken.
– Detta är de första korten för PXI eller LXI där inbyggd självtest ingår, säger David Owen som är affärsutvecklingschef för Pickering Interfaces i ett pressmeddelande.

Pickering Interfaces har döpt tekniken till BIRST, Built in Relay Self Test, och inkluderat den i ett antal nya reläkort.

Med Birst kan användaren snabbt testa om reläerna på reläkorten i ett testsystem ligger inom specifikationen. Själva testet kräver heller ingen extra hårdvara. Det enda användaren behöver göra är att koppla bort alla testobjekt och sedan köra ett speciellt testprogram som går igenom alla reläswitcharna på det aktuella kortet.

Livslängden på en reläswitch är svår att förutsäga eftersom den hänger samman med vilken typ av signal den switchar och hur den switchar (Hot eller Cold).
MER LÄSNING:
 
Här får du våra nyheter gratis
• Tidningen, i brevlådan (länk).

• Dagligt nyhetsbrev (länk).

245
elektronik­konsulter

Registrera ditt företag nu!
SENASTE KOMMENTARER
Kommentarer via Disqus

Vi gör Elektroniktidningen

Anne-Charlotte Sparrvik

Anne-Charlotte
Sparrvik

+46(0)734-171099 ac@etn.se
(sälj och marknads­föring)
Per Henricsson

Per
Henricsson
+46(0)734-171303 per@etn.se
(redaktion)

Anna Wennberg

Anna
Wennberg
+46(0)734-171311 anna@etn.se
(redaktion)

Jan Tångring

Jan
Tångring
+46(0)734-171309 jan@etn.se
(redaktion)