About / Advertise
Nu kan man testa kortförbindningar i full systemhastighet. Det lovar Logic Vision, ett företag som specialiserat sig på inbyggda testlösningar för elektronikkonstruktioner.
Nylanserade JTAG-XLI är en vidareutveckling av standarden IEEE 1149.1, mer känd som JTAG, och byggs in i kortets kretsar. Fördelen är att skapelsen, till skillnad från JTAG, klarar test och diagnos i hög hastighet, lika hög hastighet som kortet sedan ska klara i drift.
Därmed kan man upptäcka timingfel som beror på kallödningar eller oönskade variationer i förbindningarnas bredd och tjocklek. Ställtider såväl som hålltider kan verifieras och metoden stöder kort med flera systemklockor.
Litet styrblock
Logic Visions nykomling består förutom utökad JTAG-logik även av styrblocket ASI - At-Speed Interconnect - som sänder iväg data från en krets och tar emot det i en annan krets på en enda systemklockcykel. Det ska jämföras med traditionell JTAG-testning som kräver minst 2,5 testklockcykler för samma operation. I praktiken innebär det att testfrekvensen ligger mellan 8 och 16 MHz, vilket ofta är mycket lägre än kortets systemfrekvens.
JTAG-XLI-produkten har programvara för att skapa syntetiserbar VHDL- eller Verilogkod av styrblocket som ska implementeras i de egna kretsarna. Blocket upptar endast 200 logikgrindar. Kunden får även en testbänk och ett syntesskript.
Men vad gör man om inte alla kretsar på kortet stöder den nya testmetoden? Då testar man på vanligt JTAG-manér, XLI-varianten är fullt kompatibel med traditionell JTAG. Fast då får man nöja sig med lägre testfrekvens.
Produkten ska finnas tillgänglig det andra kvartalet i år. Det amerikanska listpriset ligger på 25 000 dollar per kretskonstruktion, eller 15 000 dollar om man dessutom köper företagets testprodukt IC-Bist.
Charlotta von Schultz
