Man lägger in extrafunktioner som slussar ut mätpunkter till ben på chipset.
Kretsen testas genom att en insignal läggs på och utsignalen jämförs med det förväntade värdet.
Det är tillverkningsfel man letar efter. Till exempel dåliga lödningar och felvända komponenter. Det är kretsen i dess omgivning på kortet som är intressant att testa. Kretsen i sig kan man oftast räkna med är felfri.
Från början planerades fem syskon i boundary scan-testfamiljen. Till slut blev det sex, numrerade från 1149.1 till 1149.6. Proffsen kallar dem "punkt ett" till "punkt sex".
o IEEE 1149.1. Framgångssagan Boundary-scan, även kallad JTAG. Ingen av syskonen ligger i närheten av storebrors succé. Den används för allt från att testa kretsar till att programmera dem och avlusa dem. En av de senaste tillämpningarna är att systemtesta bakplan.
Boundary scan hanterar digitala signaler. In- och utdata är ettor och nollor representerade av spänningsnivåer.
Standarden beskriver huvudsakligen ett seriellt gränssnitt. Mätpunkterna kopplas samman till ett enda långt skiftregister som matar in och ut ettor och nollor.
o IEEE 1149.2. Återfödd Arbetet med tvåan avbröts, men håller på att återfödas under namnet IEEE P1500, Scalable core test architecture.
P1500 är i princip boundary scan utan tap-kontrollern, gränssnittet till kretsens utsida. P1500 ska användas för att testa IP-blocken i system-på-chips (SOC).
o IEEE 1149.3 och 5. Döda Trean och femman var till för att testa system av kretsar. Trean planerades men blev aldrig till. Femman testar grupper av 1149.1-kretskort och föddes 1997. Men det var försent. En teknik från Texas Instruments hade redan tagit dess plats som de factostandard.
o IEEE 1149.4. Nyfödd Nummer fyra, Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan Test, är en utvidgning av ettan med signalvägar för att mäta kontinuerlig spänning och ström.
Man kan till exempel testa om en digital krets sänker strömmen enligt specifikationen.
Standarden kan användas för att testa analoga och blandade kretsar, även växelspänning med en praktisk gräns vid ungefär 100 kHz.
o IEEE 1149.6. Ofödd Digitala signaler representeras av differentiella signaler i de alltmer populära seriella gränssnitten.
Därför har ettan och fyran fått ett oplanerat sladdsyskon med namnet boundary scan testing of advanced digital networks. Standarden mäter också AC-kopplade signaler.
Jan Tångring