JavaScript is currently disabled.Please enable it for a better experience of Jumi.
 ETN.fi  Annonsera Utgivningsplan Månadsmagasinet Prenumerera Konsultguide Om oss  About / Advertise
Bättre upplösning i både prober och kamera gör det enklare att ta reda på exakt var på en halvledarkomponent EMC-problemen finns.
– Det går att göra chipskanning med 25 mikrometer mellan mätpunkterna och så har vi en ny kamera med en upplösning på 10 mikrometer per pixel, säger Anders Eriksson som är mjukvaruansvarig på Detectus.

Det Malungsbaserade företaget startade 1994 och utvecklar skannrar för att mäta elektriska och magnetiska fält liksom yttemperaturen på elektronikprodukter.

Med det nya tillägget kallat IC-Option ökar upplösningen i Detectus EMC-skannrar rejält. Men att skanna en integrerad krets med steg om 25 mikorometer tar en timme eller mer.

– I praktiken grovskannar man först och zoomar sedan in på intressanta områden, säger Anders Eriksson.

På labbet kan tekniken till exempel användas för att utvärdera vilken effekt olika avkopplingskondensatorer ger.

Precis som tidigare går det att mata in en 3D-ritning av det kretskort som ska testas. Ritningen används för att styra proben i höjdled när den skannar kortet. Men den finare upplösningen ökar också kravet på de mekaniska toleranserna i proberna.

– Tidigare har man mätt in det okulärt och kanske kalibrerat med bladmått i höjdled. Men vad säger att loopen ligger mitt i proben och att mätningen blir likadan om du roterar den 180 grader?

För att råda bot på det problemet finns numera en kalibreringsfunktion. Den baseras på en sändare i mätbordet som proben söker sig in mot.

– Det gör att vi med större säkerhet kan reproducera mätningarna, säger Anders Eriksson.
MER LÄSNING:
 
Pappersmagasinet Nyhetsbrev
SENASTE KOMMENTARER
Kommentarer via Disqus

Vi gör Elektroniktidningen

Anne-Charlotte Sparrvik

Anne-Charlotte
Sparrvik

+46(0)734-171099 ac@etn.se
(sälj och marknads­föring)
Per Henricsson

Per
Henricsson
+46(0)734-171303 per@etn.se
(redaktion)

Anna Wennberg

Anna
Wennberg
+46(0)734-171311 anna@etn.se
(redaktion)

Jan Tångring

Jan
Tångring
+46(0)734-171309 jan@etn.se
(redaktion)