About / Advertise
Tyska test- och mätföretaget Rohde & Schwarz tar hjälp av belgiska NMDG för att kunna erbjuda olinjär analys av komponenter och subsystem på rf-området.
De allt mer avancerade modulationsmetoderna gör det nödvändigt att använda olinjära modeller för karakterisering och simulering men också för att sedan testa rf-komponenterna.Agilent lanserade de så kallade X-parametrarna för två år sedan. X-parametrar kan ses som ett superset av de linjära S-parametrarna och används för att karakterisera amplitud och fas i de övertoner som bildas när man driver testobjektet med så stora signaler att det inte längre arbetar linjärt.
År 2008 började också den belgiska systemintegratören NMDG att göra motsvarande mätningar med instrument från Rohde & Schwarz. Nu formaliserar företagen samarbetet som ger Rohde & Swchwarz kunder access till NMDG:s teknik.
– En nätverksanalys som karakteriserar olinjära effekter gör det möjligt att redan tidigt i designfasen optimera rf-komponenter och rf-system. Det är därför som konstruktörer av halvledarkretsar blir allt mer intresserade i test- och mätlösningar som på ett reproducerbart sätt kan anvndas för att jämföra data som samlats in under karakterisering, modellering och simulering, säger Jörg Fries i ett pressmeddelande. Han är ansvarig för spektrum- och nätverksanalysatorer på Rohde & Schwarz.
