About / Advertise
Japanska Takaya, en av pionjärerna när det gäller kretskortstestare av typen flying probe, har släppt en ny modell som gör det möjligt att testa 48 procent större kort. Siktet är inställt på kretskort till bland annat 5G och batteristyrningssystem.
Flying probe-testare, en testare med ett eller flera rörliga testhuvuden, används för att testa prototyper och kortare serier av kretskort. Det går bland annat att mäta lik- och växelström liksom kapacitans, resistans och förbindning men testaren kan också användas för uppgifter som boundary scan och programmering.
APT-1600FD-SL har sex probar på ovansidan och fyra på undersidan av kortet vilket gör det möjligt att täcka in fler testfall plus att maskinen klarar betydligt större kort än sin föregångare APT-1600FD som klarade 540×D483mm.
