JavaScript is currently disabled.Please enable it for a better experience of Jumi.
Annonsera Utgivningsplan Månadsmagasinet Prenumerera Konsultguide Om oss  About / Advertise

Japanska Takaya, en av pionjärerna när det gäller kretskortstestare av typen flying probe, har släppt en ny modell som gör det möjligt att testa 48 procent större kort. Siktet är inställt på kretskort till bland annat 5G och batteristyrningssystem.

Flying probe-testare, en testare med ett eller flera rörliga testhuvuden, används för att testa prototyper och kortare serier av kretskort. Det går bland annat att mäta lik- och växelström liksom kapacitans, resistans och förbindning men testaren kan också användas för uppgifter som boundary scan och programmering.

APT-1600FD-SL har sex probar på ovansidan och fyra på undersidan av kortet vilket gör det möjligt att täcka in fler testfall plus att maskinen klarar betydligt större kort än sin föregångare APT-1600FD som klarade 540×D483mm.

MER LÄSNING:
 
 
Pappersmagasinet Nyhetsbrev
SENASTE KOMMENTARER
Kommentarer via Disqus

Vi gör Elektroniktidningen

Anne-Charlotte Sparrvik

Anne-Charlotte
Sparrvik

+46(0)734-171099 ac@etn.se
(sälj och marknads­föring)
Per Henricsson

Per
Henricsson
+46(0)734-171303 per@etn.se
(redaktion)

Anna Wennberg

Anna
Wennberg
+46(0)734-171311 anna@etn.se
(redaktion)

Jan Tångring

Jan
Tångring
+46(0)734-171309 jan@etn.se
(redaktion)