JavaScript is currently disabled.Please enable it for a better experience of Jumi. Tyska forskare jagar hårdvaruhack med mikroskop

Du har designat en krets och skickat designfilerna till en fabrik för tillverkning, men hur vet du att fabriken levererar det du har beställt, utan ändringar? Tyska forskare jobbar med frågan,

Det finns hotbilder och så finns det, låt oss säga mer esoteriska, hotbilder. Till den senare hör nog risken för modifierade kretsar med inplanterade bakdörrar. 

Ett tyskt forskarteam har tagit sig an utmaningen med hjälp av bildanalys, och resultaten ska presenteras på ett IEEE-symposium i San Francisco i slutet av maj.

Blueprint för en 65 nm-krets. Forskarna jämförde denna med foton av den tillverkade kretsen för att hitta eventuella avvikelser.

Med hjälp av ett svepelektronmikroskop tog forskarna tusentals bilder av de kretsar som skulle undersökas, och jämförde dem med hur det enligt designfilerna borde se ut. I just det här fallet var kretsarna redan tillverkade och kunde sålunda inte hackas; istället bad man en utomstående grupp göra små ändringar i designfilerna så att det skulle finnas avvikelser att leta efter.

För de kretsar som var tillverkade i 40, 65 respektive 90 nm hittade gruppen samtliga ändringar, men man missade tre stycken på den krets som var tillverkad i 28 nm. Ett bättre resultat skulle kunna uppnås, skriver man, genom att använda ett bättre mikroskop och framför allt fotografera kretsarna i renrum.

En preprint av rapporten finns på Eprint (pdf) medan algoritm, bilder och designfiler kan hämtas från Github.


Bild (C) RUB, Embedded Security

Prenumerera på Elektroniktidningens nyhetsbrev eller på vårt magasin.


MER LÄSNING:
 
KOMMENTARER
Kommentarer via Disqus

Rainer Raitasuo

Rainer
Raitasuo

+46(0)734-171099 rainer@etn.se
(sälj och marknads­föring)
Per Henricsson

Per
Henricsson
+46(0)734-171303 per@etn.se
(redaktion)

Jan Tångring

Jan
Tångring
+46(0)734-171309 jan@etn.se
(redaktion)