JavaScript is currently disabled.Please enable it for a better experience of Jumi. Allt du behöver veta om tillförlitlighet

Allt du behöver veta om tillförlitlighet

”Reliability of Microtechnology: Interconnects, Devices and Systems” är helt ny bok om tillförlitlighet. Den täcker allt från mätteknik, felmodeller och felmekanismer till testmetoder. Boken börjar med löd- och limfogar och går via komponenterna hela vägen upp till systemnivå.
Huvudförfattare är Johan Liu, professor på Chalmers och grundare av företaget SHT, Smart High Tech. Till sin hjälp har han haft Olli Salmela och Jussi Sarkka från Nokia Siemens Networks, James E. Morris från Portland State University, Per-Erik Tegehall från Swerea IVF och Cristina Andersson på Chalmers.

Boken är tänkt att fungera lika bra som kursbok på universitet och högskolor som i industrin. Boken är på 204 sidor och utgiven på Springer förlag.

Den går bland annat att köpa via nätbokhandeln Amazon (länk).

Prenumerera på Elektroniktidningens nyhetsbrev eller på vårt magasin.


MER LÄSNING:
 
KOMMENTARER
Kommentarer via Disqus

Rainer Raitasuo

Rainer
Raitasuo

+46(0)734-171099 rainer@etn.se
(sälj och marknads­föring)
Per Henricsson

Per
Henricsson
+46(0)734-171303 per@etn.se
(redaktion)

Jan Tångring

Jan
Tångring
+46(0)734-171309 jan@etn.se
(redaktion)