Därtill finns oftast ytterligare minnen inbyggda i processorkärnan, som skräddarsytts för maximal prestanda och minimal yta och strömförbrukning. Dessa minnen ökar komplexiteten i testerna ytterligare.
Denna problematik har Arm och Mentor Graphics attackerat gemensamt, och samarbetet har nu resulterat i en lösning, ett referensflöde kallat Tessent Testkompress, baserat på Mentors testverktyg Tessent. I lösningen ingår en helt automatiserat metodik för test av minnen, stöd för Armgränssnittet Mbist, och åtkomst av alla minnen i Arm-kärnorna för full testning av dessa.
– Referensflödet ger våra kunder en enkel och verifierad testmetodik för kostnadseffektiv, högkvalitativ test av processorlogik och tillhörande logik, säger Arms testchef Teresa McLaurin.
I flödet ingår scan-baserade metodik för konstruktion för testbarhet, automatisk testmönstergenerering (ATPG), Mentors egenutvecklade metodik för kompresson av testdata samt teknik för inbyggt självtest (Bist) av minnen.
– Vårt samarbete med Arm gynnar våra gemensamma kunder, som kan komma ut på marknaden snabbare med sina Arm-baserade produkter när testtiden minimeras, kommenterar Mentors produktchef Steve Pateras.