About / Advertise
För två år sedan gav sig National Instruments in på marknaden för automatiserade testsystem till halvledarbranschen. Nu breddas utbudet med en digital mönstergenerator.
Produkterna går under beteckningen STS, Semiconductor Test Systems, och hårdvaran baseras på företagets PXI-kort. I första omgången låg fokus på rf- och blandsignalkretsar, men nu breddas det till digitalområdet med en digital mönstergenerator.
– Det PXI-baserade mönsterinstrumentet är ett viktigt tillskott till STS eftersom det ger utvecklare alla de digitala funktioner som de bara förväntar sig att hitta i avancerade testplattformar för digitala kretsar, säger Ron Wolfe, ansvarig för NI:s halvledartestare i ett pressmeddelande.
PXIe-6570 har 32 kanaler och kan exekvera mönster med 100 miljoner vektorer per sekund. Det går att bygga delsystem med 256 kanaler som samplar parametriska funktioner för data och spänning/ström.
STS har också fått en ny mjukvarueditor för digitala testsignaler med redigeringsmiljöer för anslutningarna hos testobjektet, liksom specifikationer och mönster för att snabbare få fram tester. Det finns integrerade verktyg för att kunna testa på geografiska åtskilda platser och med andra instrument när det väl är dags att dra igång produktionen. Dessutom finns verktyg, inklusive så kallade shmoo-plottar, och en interaktiv karta över anslutningarna, för att effektivare kunna avlusa och optimera testerna.
