JavaScript is currently disabled.Please enable it for a better experience of Jumi. Inbyggt självtest för inbyggda minnen

Viewlogic har lanserat ett nytt sätt att införa inbyggt självtest i alla olika typer av minnen som kan byggas in i asicar.

Alltfler avancerade asicar inbegriper någon form av minne. Men att testa detta minne - DRAM, ROM, SRAM eller vad det nu kan vara för typ - är inte alltid det lättaste. Det har numera Synopsysstyrda Viewlogic tänkt ändra på.

Företaget har därför lanserat Membist, ett tillägg till testverktygsserien Sunrise Testgen. Det sägs bygga på en patenterad teknik som tar hänsyn till feldiagnos, förmåga till självreparation och programmerbarhet. Dessutom finns ett dussin vanliga testalgoritmer.

Förmågan att testa DRAM är vad Viewlogic framhäver mest. Enligt företaget finns inget annat verktyg på marknaden som är lika bra på inbyggd självtest av asicar med DRAM.

Med de tidigare lanserade verktygen för boundary scan och automatisk testmönstergenerering - som är tänkta för logikdelarna av asicen - säger man sig nu ha marknadens mest heltäckande svit för konstruktion för testbarhet.

Inbyggd självtest har flera fördelar gentemot andra testmetoder, åtminstone så länge det är inbyggda minnen det gäller. Metoden ger bättre feltäckningsgrad än boundary-scan. Den kräver mindre kiselyta än om minnesytan skulle behöva accessas direkt eller genom multiplexering. Och den är billigare än båda dessa metoder, hävdar Viewlogic.

Kiselytan minimeras bland annat genom att verktyget kan låta flera minnen dela de nödvändiga extra grindarna. Ett av de ingående patenten handlar också om hur ledningsdragningen för testerna ska påverka den övriga kretsen så lite så möjligt.



Testar i full hastighet


De inbyggda självtesterna kan utföras vid full systemhastighet. Och testerna kan återanvändas - samma testkoder kan användas på kiselskivan, i kapseln och på plats i målsystemet.

Problemet har varit att få tillräckligt hög feltäckningsgrad, och att också få gränssnittet mellan minnesarean och den övriga asicen med i testet, eftersom detta gränssnitt bäst testas med scan-teknik. Allt detta säger sig nu alltså Viewlogic ha löst.



Alstrar kod automatiskt


Membist förser kretsens VHDL- eller Verilogkod med de extrafunktioner som krävs för att minnet, av valfri typ, ska kunna testas automatiskt. Användaren anger minnets egenskaper i ett grafiskt användargränssnitt.

Därefter alstrar Membist automatiskt den kod - på registernivå - som behövs för implementationen av testerna. Denna kod verifieras automatiskt och kan syntetiseras med något av marknadens alla syntesverktyg. Starka kopplingar finns även till Viewlogics egna verktyg, Verilogsimulatorn VCS och timingverktyget Motive.

Ursprunget till verktyget kommer från företaget Heuristic Physics Labs, HPL, specialiserat just på minnesdesign. Viewlogic har i princip tagit deras internt utvecklade verktyg och gjort en kommersiell produkt av det, med vettigt användargränssnitt och kopplingar till andra verktyg.

Verktyget har använts bland annat av Fujitsu i utvecklingen av en krets för tredimensionell bildhantering. Enligt ett pressmeddelande nådde Fujitsu 95 procents feltäckningsgrad, vilket man anser vara mycket bra.

Verktyget ska finnas på marknaden i november. Grundversionen klarar ROM och SRAM, medan DRAM-funktioner finns som tilllägg. Listpriset börjar vid 40 000 dollar.

Adam Edström

Prenumerera på Elektroniktidningens nyhetsbrev eller på vårt magasin.


MER LÄSNING:
 
KOMMENTARER
Kommentarer via Disqus

Anne-Charlotte Lantz

Anne-Charlotte
Lantz

+46(0)734-171099 ac@etn.se
(sälj och marknads­föring)
Per Henricsson

Per
Henricsson
+46(0)734-171303 per@etn.se
(redaktion)

Jan Tångring

Jan
Tångring
+46(0)734-171309 jan@etn.se
(redaktion)