JavaScript is currently disabled.Please enable it for a better experience of Jumi. Laser testar flipchip

Franska Schlumberger har tagit fram en laserbaserad testmetod för flipchip-kretsar, det vill säga okapslade kretsar som monteras med ovansidan nedåt.


IDS 2000, som systemet döpts till, använder en infraröd laserstråle för att fånga upp elektriska signaler direkt från transistorerna.

- IDS 2000 är ett utvecklingshjälpmedel som ska användas för att hitta fel i flipchip-kretsar, säger Jean-René Quenin som är marknadsansvarig på Schlumberger.

- Man kan proba signalen från varje enskild transistor i en krets.

Testaren innehåller en pulsad IR-laser som riktas mot den aktiva delen på den transistor man vill undersöka.

Signalen plockas upp genom att effekten i den reflekterade ljuspulsen är proportionell mot spänningen över transistorn.

- Ljuspulserna är på 30 pikosekunder vilket ger en bandbredden i laserproben på 10 GHz, Jean-René Quenin.

Testtiderna beror på vågformen och går från några sekunder till några minuter.

Laserstrålen är tillräckligt smal för att klara avancerade CMOS-processer på 0,18 μm. Testmetoden påverkar inte chipset och kräver minimal preparering. För att kunna positionera laserstrålen inleds varje mättillfälle med att flipchip- kretsen scannas av med laserstrålen och resultatet jämförs med caddata.

De första testarna är redan levererade och prislappen är 1,9 miljoner dollar.

Per Henricsson

Prenumerera på Elektroniktidningens nyhetsbrev eller på vårt magasin.


MER LÄSNING:
 
KOMMENTARER
Kommentarer via Disqus

Rainer Raitasuo

Rainer
Raitasuo

+46(0)734-171099 rainer@etn.se
(sälj och marknads­föring)
Per Henricsson

Per
Henricsson
+46(0)734-171303 per@etn.se
(redaktion)

Jan Tångring

Jan
Tångring
+46(0)734-171309 jan@etn.se
(redaktion)