JavaScript is currently disabled.Please enable it for a better experience of Jumi. Överlagrad bild förenklar avsyningen

Människan är extremt bra på att upptäcka skillnader mellan två bilder. Svenska Inspectis nyttjar egenskapen för att underlätta avsyningen med företagets mikroskop.

Tekniken har döpts till Overlay Assisted Inspection, OAI, och kommer med den nya versionen (5.0) av företagets mjukvara. Operatören har två varianter att välja på. Antingen kan videon från kameran jämföras med en referensbild eller så kan operatören jämföra upp till fyra stillbilder med varandra.

När man jämför det kameran ser med en referensbild finns möjligheten att överlagra referensbilden med videon från kameran och sedan växla mellan dessa med ett förutbestämt tidsintervall vilket gör det enkelt att upptäcka bland annat saknade och felvända komponenter.

Inspectis har också tagit fram en speciell korthållare som gör det enklare att linjera kortet med referensbilden. Systemet passar mikroskopen FHD och UHD, den senare ger 4K-upplösning.

Prenumerera på Elektroniktidningens nyhetsbrev eller på vårt magasin.


MER LÄSNING:
 
KOMMENTARER
Kommentarer via Disqus

Rainer Raitasuo

Rainer
Raitasuo

+46(0)734-171099 rainer@etn.se
(sälj och marknads­föring)
Per Henricsson

Per
Henricsson
+46(0)734-171303 per@etn.se
(redaktion)

Jan Tångring

Jan
Tångring
+46(0)734-171309 jan@etn.se
(redaktion)