JavaScript is currently disabled.Please enable it for a better experience of Jumi. Mikrovågstest för delsystem
Guidelines for contributing Technical Papers: download PDF

Under skalet på mikrovågsanalysatorn 6800 från amerikansk- brittiska IFR finns en syntetiserad signalgenerator, en skalär analysator och en syntetiserad spektrumanalysator.


- Mikrovågsindustrin går allt mer över till att testa delsystem istället för enskilda komponenter i takt med att integrationen ökar, säger Angus Robinson på IFR.

- Ett delsystem innehåller ofta ett filter, en blandare, ytterligare ett filter, en mellanfrekvensförstärkare och ibland även en oscillator. Det här gör att testsystemet ser en annan frekvens ut från testobjektet än som skickas in, säger han.

Tidigare har man därför behövt flera instrument för att kunna mäta upp den här typen av delsystem. För att istället kunna göra det med ett enda instrument har IFR integrerat en syntetiserad signalgenerator, en skalär analysator med tre ingångar och en syntetiserad spektrumanalysator under samma skal.

Nykomlingen har döpts till 6800 och konceptet bygger vidare på den äldre analysatorn 6200. Den största skillnaden är den högre frekvensstabiliteten som gör att man kan mäta på den frekvens som kommer ut från testobjektet trots att det inte är samma frekvens som skickas in. Bland annat går det enkelt att mäta förstärkning eller dämpning genom testobjektet.

Familjen omfattar åtta instrument med en maximal frekvens på 24 GHz.

Per Henricsson

Prenumerera på Elektroniktidningens nyhetsbrev eller på vårt magasin.


MER LÄSNING:
 
KOMMENTARER
Kommentarer via Disqus

Rainer Raitasuo

Rainer
Raitasuo

+46(0)734-171099 rainer@etn.se
(sälj och marknads­föring)
Per Henricsson

Per
Henricsson
+46(0)734-171303 per@etn.se
(redaktion)

Jan Tångring

Jan
Tångring
+46(0)734-171309 jan@etn.se
(redaktion)