JavaScript is currently disabled.Please enable it for a better experience of Jumi.
 ETN.fi  Annonsera Utgivningsplan Månadsmagasinet Prenumerera Konsultguide Om oss  About / Advertise
Dan Adolfsson har tilldelats Lilla Polhemspriset på 25 000 kronor för bästa exjobb av Sveriges Ingenjörer. Han har i samarbete med NXP förbättrat metoden att med hjälp av scankedjor diagnostisera defekter i integrerade kretsar. Testerna går numera 10-100 gånger snabbare och dessutom med betydligt högre precision.
Examensarbetet "Improved Scan Chain Diagnosis" utfört av Dan Adolfsson vid Linköpings tekniska högskola i samarbete med NXP Semiconductors har av Sveriges Ingenjörer utsetts till bästa exjobb bland civilingenjörsstudenter under fjolåret. För detta tilldelades Dan Adolfsson Lilla Polhemspriset som förutom äran även består av 25 000 kronor kontant. Exjobbet resulterade dessutom i ett jobb på NXP i Holland.

- Man kan säga att presentationen av exjobbet var en del av anställningsintervjun, säger Dan Adolfsson.

Scankedjor är en vanlig metod att testa färdigproducerade integrerade kretsar för att hitta defekter som uppstått i produktionen. Metoden bygger på att alla vippor är sammankopplade till långa skiftregister. Vid ett test skiftas stimuli in, en normal klockcykel appliceras och därefter skiftas svaret ut och jämförs med förväntat testsvar.

Problemet är att beräkningstiden för scankedjediagnostiken kan bli enorma för stora kretsar. Själva scankedjorna kan i sig ta upp till 30 procent av kretsytan, och defekterna kan förstås lika gärna uppträda i dessa kedjor.

- Testar man bara logiken så missar man alltså att dra lärdom av 30 procent av felen. Sitter felet i scankedjan går det dessutom inte att diagnosticera resten av logiken eftersom logiktestet är beroende av att scankedjan är intakt, konstaterar Adolfsson.

Hans metod får inte bara ner beräkningstiderna till mellan en tiondel och en hundradel av tidigare. Lika viktigt är att metoden garanterar att ett existerande fel lokaliseras, samt att felets art alltid blir korrekt diagnosticerat.

- Åtminstone så länge det rör sig om fel av typen stuck-at-1, stuck-at-0 eller någon annan av de sex feltyper som är dokumenterade i litteraturen kring scanmetodiken. Metoden kan även hantera andra icke modellerade feltyper, men då kan inte resultatet garanteras med samma säkerhet, säger han.

Scantester används inte bara för att kassera defekta chips utan resultaten används också för att förbättra produktionen så att färre fel ska uppkomma i framtiden. Adolfssons testmetoder är kvalificerade av NXP sedan november i fjol och används numera i skarpa projekt där.
MER LÄSNING:
 
Pappersmagasinet Nyhetsbrev
SENASTE KOMMENTARER
Kommentarer via Disqus

Vi gör Elektroniktidningen

Anne-Charlotte Sparrvik

Anne-Charlotte
Sparrvik

+46(0)734-171099 ac@etn.se
(sälj och marknads­föring)
Per Henricsson

Per
Henricsson
+46(0)734-171303 per@etn.se
(redaktion)

Anna Wennberg

Anna
Wennberg
+46(0)734-171311 anna@etn.se
(redaktion)

Jan Tångring

Jan
Tångring
+46(0)734-171309 jan@etn.se
(redaktion)