JavaScript is currently disabled.Please enable it for a better experience of Jumi.
 ETN.fi  Annonsera Utgivningsplan Månadsmagasinet Prenumerera Konsultguide Om oss  About / Advertise
- När vi utvecklade den tredje genrerationen av rf-probstationen S680 ville vi göra den lika enkel att använda som en DC-testare, säger Mark Cejer på Keithley.


Probstationen används för att mäta olika rf- och likspänningsparametrar på rf-kretsarna innan wafern delas upp och chipsen kapslas. S680-serien klarar frekvenser upp till 40 GHz.

- Tidigare måste det stå en rf-kunnig ingenjör i produktionslinan för att kolla att mätvärdena var vettiga, det behövs inte längre.

För att göra probstationen så enkel att använda har Keithley gjort tre förändringar: det är numera lika enkelt att byta kortet med rf-probarna som probarna för likspänningsmätningar, probarna kalibreras automatiskt mellan mätningarna och slutligen så bestämmer probstationen själv, utgående från mätvärdena, hur hårt probarna ska tryckas mot wafern för att det ska bli bra kontakt och därmed 50 ohms impedans.

Per Henricsson
MER LÄSNING:
 
Pappersmagasinet Nyhetsbrev
SENASTE KOMMENTARER
Kommentarer via Disqus

Vi gör Elektroniktidningen

Anne-Charlotte Sparrvik

Anne-Charlotte
Sparrvik

+46(0)734-171099 ac@etn.se
(sälj och marknads­föring)
Per Henricsson

Per
Henricsson
+46(0)734-171303 per@etn.se
(redaktion)

Anna Wennberg

Anna
Wennberg
+46(0)734-171311 anna@etn.se
(redaktion)

Jan Tångring

Jan
Tångring
+46(0)734-171309 jan@etn.se
(redaktion)